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高溫環(huán)境試驗程序的兩種方式
在國軍標(biāo)和美軍標(biāo)中將裝備的高溫試驗分為高溫存儲和高溫工作兩個程序，這兩個程序又分為兩種方式：一種是恒定溫度，即在某一規(guī)定的恒定溫度下進行試驗，如+71℃....
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1、環(huán)境試驗的國軍標(biāo)和美軍標(biāo)在國軍標(biāo)和美軍標(biāo)中將裝備的高溫試驗分為高溫存儲和高溫工作兩個程序，這兩個程序又分為兩種方式：一種是恒定溫度，即在某一規(guī)定的恒定溫度下進行試驗，如+71℃；另一種是循環(huán)溫度，即在規(guī)定的變化溫度范圍內(nèi)進行試驗，如按表3-4所示高溫日循環(huán)數(shù)據(jù)進行實驗。
表3-4高溫日循環(huán)
1天中的時間（h） 氣候類型：基本熱 氣候類型：熱 環(huán)境空氣溫度 誘發(fā)溫度 環(huán)境空氣溫度 誘發(fā)溫度 溫度（℃） 濕度（%）RH 溫度（℃） 濕度（%）RH 溫度（℃） 濕度（%）RH 溫度（℃） 濕度（%）RH 01 33 36 33 36 35 6 35 6 02 32 38 32 38 34 7 34 7 03 32 41 32 41 34 7 34 7 04 31 44 31 44 33 8 33 7 05 30 44 30 44 33 8 33 7 06 30 44 31 43 32 8 33 7 07 31 41 34 32 33 8 36 5 08 34 34 38 30 35 6 40 4 09 37 29 42 23 38 6 44 4 10 39 24 45 17 41 5 51 3 11 41 21 51 14 43 4 56 2 12 42 18 57 8 44 4 63 2 13 43 16 61 6 47 3 69 1 14 43 15 63 6 48 3 70 1 15 43 14 63 5 48 3 71 1 16 43 14 62 6 49 3 70 1 17 43 14 60 6 48 3 67 1 18 42 15 57 6 48 3 63 2 19 40 71 50 10 46 3 55 2 20 38 20 44 14 42 4 48 3 21 36 22 38 19 41 5 41 5 22 35 25 35 25 39 6 39 6 23 34 28 34 28 38 6 37 6 24 34 33 33 33 37 6 35 6 (1)高溫存儲它是用來考核在裝備存儲期間，高溫對其安全性、完整性和性能的影響。(2)高溫工作它是用來考核在裝備工作期間，高溫對其性能的影響。(3)高溫存儲和高溫工作的區(qū)別就性能檢測而言，兩者之間的不同之處是：高溫存儲是在高溫暴露試驗之后進行性能檢測，適用于評價高溫存儲后對裝備性能的影響；高溫工作是在高溫暴露試驗期間進行性能檢測，適用于評價裝備工作期間高溫對裝備的影響。
高低溫試驗箱示意圖
2、環(huán)境試驗國標(biāo)和IEC的標(biāo)準(zhǔn)(基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn))高溫試驗分為非散熱試驗樣品的高溫試驗和散熱試驗樣品的高溫試驗兩種。非散熱試驗樣品與散熱試驗樣品的區(qū)別為：當(dāng)箱內(nèi)溫度達到穩(wěn)定后，在自由空氣條件下(如低氣流循環(huán))，樣品表面溫度超過周圍空氣5℃以上，稱為散熱樣品。(1)非散熱試驗樣品的高溫試驗試驗時，溫度調(diào)節(jié)采用漸變的方式，當(dāng)溫度漸變到規(guī)定的溫度，并在該溫度上穩(wěn)定后，暴露到規(guī)定時間。該試驗通常在非工作狀態(tài)下進行，箱內(nèi)空氣循環(huán)通常采用高氣流。高氣流速度循環(huán)是指：為維持設(shè)定條件，箱內(nèi)空氣調(diào)節(jié)速度，導(dǎo)致樣品任一點上由于空氣循環(huán)而降低5℃以上。(2)散熱試驗樣品的高溫試驗這種高溫試驗又分為兩種試驗方式：一種是在溫度調(diào)節(jié)(漸變升溫)過程中樣品不通電，到規(guī)定溫度后才通電，然后在溫度穩(wěn)定后暴露到規(guī)定的時間。另一種是在整個試驗過程中樣品要求通電的溫度漸變試驗。試驗時，樣品放入試驗箱后就通電或加電負(fù)載，檢查功能和性能是否符合要求，然后將溫度調(diào)節(jié)(漸變升溫)到規(guī)定的溫度，并在該溫度上穩(wěn)定后，暴露到規(guī)定時間。
進行散熱試驗樣品的高溫試驗時，箱內(nèi)空氣循環(huán)通常采用低氣流。低氣流速度(如工作低氣流速度不大于0.5m/s )循環(huán)是指：為維持設(shè)定條件，箱內(nèi)空氣調(diào)節(jié)速度，導(dǎo)致樣品任一點上不會由于空氣循環(huán)而溫度降低5℃以上。
所謂溫度漸變，是指樣品放入箱中，隨箱內(nèi)空氣溫度一起慢慢升高，溫升速度通常不超過1℃/min，防止由于溫度改變對樣品產(chǎn)生高溫試驗不考核的溫度沖擊的影響。3、電子和電氣元件和微電子器件標(biāo)準(zhǔn)對電子和電氣元件和微電子器件的高溫試驗，通?？煞譃榇鎯υ囼?不加電應(yīng)力)、壽命試驗(加電應(yīng)力)、老練試驗、失效率試驗四種。(1)存儲試驗：在不通電的情況下確定高溫存儲對其的影響。(2)壽命試驗和失效率試驗：測定其壽命和失效率，保證產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。(3)老煉試驗：剔除那些勉強合格的元器件，這些元器件本身具有固有缺陷或因其制造工藝不當(dāng)而產(chǎn)生的缺陷。這些缺陷會造成使用初期出現(xiàn)致命的失效，或早期壽命失效。
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